김정태 교수는 공과대학 전자공학과 소속 교수로 영상신호처리 분야의 전문 연구자다. 서울대학교 제어계측공학과에서 학사와 석사학위를 취득하였고, 2004년 미국 미시건 대학교 전기및 컴퓨터공학과에서 신호처리를 전공하여 박사학위를 취득하였다. 1991년부터 1998년까지 삼성전자 디지탈 미디어 연구소에서 디지탈 TV, 홈 네트워크 시스템 등을 개발한 산업체 연구개발 경험을 가지고 있다. 2004년부터 이화여대 교수로 재직 중이며, 통계적 신호처리, 의료 영상 처리, 현미경 영상처리, CMOS 영상 센서를 위한 신호처리, 계산 사진학, 라이트필드 카메라 영상 처리 등의 분야에서 활발히 연구를 수행하여 다수의 논문을 SCI 국제학술지에 발표하였다.
Robust Inspection of Integrated Circuit Substrates Based on Twin Network With Image Transform and Suppression ModulesIEEE ACCESS, 2023, v.11, 66017-66027
Spatial and Channel-Wise Co-Attention-Based Twin Network System for Inspecting Integrated Circuit SubstrateIEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, 2023, v.36 no.3, 434-444
Deep Learning Based Defect Inspection Using the Intersection Over Minimum Between Search and Abnormal RegionsInternational Journal of Precision Engineering and Manufacturing, 2020, v.21 no.4, 0
A comparative study of transfer learning-based methods for inspection of mobile camera modulesIEIE Transactions on Smart Processing and Computing, 2018, v.7 no.1, 70-74
Fast computation of projection image based on the repeated patterns of intersection between ray and voxelTransactions of the Korean Institute of Electrical Engineers, 2017, v.66 no.6, 942-948
Alternating minimization of the negative Poisson likelihood function for the global analysis of fluorescence lifetime imaging microscopy dataOPTICS EXPRESS, 2014, v.22 no.21, 24977-24987
[학술지논문] Robust Inspection of Integrated Circuit Substrates Based on Twin Network With Image Transform and Suppression Modules
IEEE ACCESS, 2023, v.11
no.1
, 66017-66027
SCIE
[학술지논문] Deep Learning Based Defect Inspection Using the Intersection Over Minimum Between Search and Abnormal Regions
INTERNATIONAL JOURNAL OF PRECISION ENGINEERING AND MANUFACTURING, 2020, v.21
no.4
, 747-758
SCIE
[학술지논문] Image Reconstruction of Moving Objects Using Multiple IR-UWB Radar Signals
IEEE SENSORS JOURNAL, 2019, v.19
no.20
, 9402-9410
SCIE
[학술지논문] Machine Learning-Based Fast Banknote Serial Number Recognition Using Knowledge Distillation and Bayesian Optimization
SENSORS, 2019, v.19
no.19
, 4218-4218